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上海仪电分析760CRT双光束紫外可见分光光度计

上海仪电分析760CRT双光束紫外可见分光光度计

品牌: 精科仪电分光光度计-气相色谱-原子吸收

型号: 760CRT

市场报价:¥68000

折扣价:请询价

主要参数:上海仪电分析760CRT紫外可见分光光度计技术参数: 测光方式: 双光束 单色器: Czerny - Turner 焦距: 200mm 光栅: 全息闪耀,1600线/mm 光束分光系统: 斩波器

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产品介绍

详细介绍

型号:上海仪电分析760CRT            品名:紫外可见分光光度计

760CRT双光束紫外可见分光光度计是软件基于Windows 7平台的全自动分光光度计,界面友好、美观,操作简单,通过打印机可打印出图文合一的分析报告,并可将图谱数据或测试数据传送Execl进行处理,可将图谱贴至Word中发表。仪器具有波长扫描、时间扫描、定量分析、定波长测试、多波长测试等功能,适合用于医药、药学、生物化学、环境保护、化学工业等实验室的日常分析和研究工作的需要。 

上海仪电分析760CRT紫外可见分光光度计产品特点:
采用全息闪耀光栅,双光束 C - T 式光路结构,高分辨率,低杂散光,测光精度高,稳定性能好。 
微机控制,自动记录,打印机可在一张记录纸上打印出含有光谱图、测试数据及操作参数的测试报告。 
光源自动转换(可在294nm ~ 364nm间任意设定) 
功能强大的光谱处理能力。 
采用长寿命进口光电倍增管,进口氘灯和长寿命钨灯。 

上海仪电分析760CRT紫外可见分光光度计软件特点:
信息存贮容量大,保存方便。 
软件提供四个图谱通道临时贮存图谱,进行图谱叠加处理,对图谱可进行图谱和图谱、图谱和系数的四则运算、导数运算。 
图谱的峰谷检测、缩放轻松自如。 
时间扫描可进行动力学研究。 
定量分析提供了浓度线性回归法、方法中提供了待定系数法和系数输入法可进行曲线拟合及异常点剔除、2λ的测定。 
软件提供了定波长和多波长测试,并可对测试数据进行注释,对同一样品多用户的测试提供了方便,多波长测试则可进行多达20个点波长的测试。
可轻松地将贮存图谱的参数设置为仪器当前测试条件。 
上海仪电分析760CRT紫外可见分光光度计技术参数:
测光方式: 双光束 
单色器: Czerny - Turner 
焦距: 200mm 
光栅: 全息闪耀,1600线/mm 
光束分光系统: 斩波器 
检测器: 进口光电倍增管 
光谱带宽: 0.08 ~ 5nm,间隔0.01nm连续可调 
波长设定: 电脑输入 
波长范围: 190nm ~ 900nm 
波长准确度: ±0.3nm (内装自动波长校正装置) 
波长重复性: ≤ 0.2nm 
分辨率: 优于 0.15nm 
光度准确度: ±0.3% (T) (以NBS930D测定) 
光度重复性: ≤ 0.2% (T) 
杂散光: ≤0.08% (T) (在220nm处,以Nal测定) (在360nm处,以NaNO2测定) 
基线平直度: ≤±0.002 (A) 
噪声: ±0.3% ( (100 T%处) ±0.1% (0 T%处) 
扫描速度: 快、中、慢 
基线漂移: ≤±0.004 A/30min 
电源电压: AC220V±22V 50Hz±1Hz 
功率: 300W

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